概要

OP-SB5GL配备两个测试端口，能够测试RS-232C（V.24）和TTL/C-MOS信号电平通信。 TTL/C-MOS测试端口支持1.8V～5V电源系的宽电压范围TTL/C-MOS电平通信。能够使用探针直接在电路板上观测通信LSI和接口IC间的通信状态。 除了一般的UART和HDLC通信的测试，还能够支持I²C/SPI^*的监听和仿真。 另外，可以利用时钟信号同步的BURST测试模式。

1 RS-232C (V.24) 测试端口 相当于标准主板的RS-232C测试端口 2 外部信号输入输出端口 输入输出外部触发信号。 3 TTL/C-MOS扩张端口 连接TTL探针组。

[ 内部结构 ]

[ I2C测定 ] [ 采用高性能探针 ]

使用方法

扩展主板安装到分析仪后，使用附带的探针夹住测试目标的通信线使用。 能够测试的信号线有SD、RD、RS、CS、SD_CLK、RD_CLK、外部输入、触发输入、触发输出的9条，能够支持各种通信。能够设置数据的极性以及取得时钟的极性。

监听功能

普通模式（USART）下，能够使用分析仪的触发等全部功能。 分析仪设定为BURST模式，还能够测定只在发送数据时供给时钟的通信方式（时钟同步通信），实现了一般分析仪无法测试的通信监听。

I²C

当设定为I²C模式时，能够进行包括开始序列和结束序列的I²C串行通信测试。支持I²C翻译表示，能够提高读写序列的分析效率。

< I2C测定结果画面 >

< I2C翻译画面 >

SPI

与LE-3500一同使用时，能够监听电路板IC间高速传送用的SPI通信。 详细请参照SPI追加说明书。

设置CPOL和CPHA后，时钟和数据显示如上图。	< SPI测定结果画面 > < SPI帧表示画面 >
	表示内容 意义 TM 表示接收数据的时间 DATA 使用16进制表示数据

逻辑分析功能

使用逻辑分析功能可以用波形确认数据的逻辑和时钟的读取时刻。特别是用于LSI之间通信的串行接口，经常会发生时钟和数据的位相差和延迟之类的问题。 此时，可以用逻辑分析功能进行位始终解析。

仿真/BERT功能

除了BURST模式，还能够进行仿真，大幅提升开发和分析的效率。 I²C模式可以选择主动从动模式进行仿真。通常模式（USART）支持比特误码率测试（BERT），可以方便的进行设备的传送特性测试。

规格

对象分析仪	LE-3500R、LE-2500R、LE-3500、LE-2500、LE-1500
接口	RS-232C、TTL/CMOS（支持I2C、SPI*1）
探针信号	SD（SDA/SDO）、RD（SDI）、RS（SS）、CS、EX IN、SD CLK（SCL/SCK）、 RD CLK、 触发IN、 触发OUT （引线长：170mm）
协议	ASYNC、ASYNC-PPP、SYNC（BSC）、HDLC（SDLC）、BURST、I2C 、SPI*1
测试功能	监听、仿真、 BERT*2
通信速度	与分析仪主机的速度限制（或扩张固件的速度限制）一样。 I2C的仿真： 50K、100K、200K、384K、417K、1Mbps
TTL/CMOS信号电平	能够选择 5.0V / 3.3V / 2.5V / 1.8V 的电源系信号电平
输入阻抗	100K Ω （0V ≦ Vin ≦ 5V） （允许输入范围：-1V ～ +7V）
输入电平閥值	设置为5.0V时 High：最低3.5V　Low：最高1.5V 设置为3.3V时 High：最低2.0V　Low：最高0.8V 设置为2.5V时 High：最低1.7V　Low：最高0.7V 设置为1.8V时 High：最低1.2V　Low：最高0.6V
输出电路	能够选择附带上拉680Ω阻抗的OC（开集）输出、无上拉OC输出、推免输出CMOS*3
输出电平电压	High：最低 选择信号电平-0.4V Low：最高　0.5V*4
尺寸重量	探针组主机：78(W) x 92(D) x 22(H)mm、约100g　　数据线长：800mm
电源	由分析仪主机供给
温度范围	使用温度：0 ～ 40℃　　保存温度：-10 ～ 50℃
构成品	专用扩展主板、中继数据线、高速TTL探针组主机、探针组数据线